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涂层测厚仪MC-2000D
涂层测厚仪MC-2000D 测量范围:10~9000um,它是的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代同类仪器的水平。
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涂层测厚仪MC-2000C
涂层测厚仪MC-2000C 测量范围:0~5000um,是的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代同类仪器的水平。
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涂层测厚仪MC-2000A
涂层测厚仪MC-2000A 测量范围:0~1200um,是的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、零点校准、两点校准及系统校准,其性能达到当代同类仪器的水平。
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涂层测厚仪MC-2010A
涂层测厚仪MC-2010A可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度,并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统,以实现对板带厚度的自动厚度控制(AGC)。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种,其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊,目的是降低板厚的滞后调整时间。
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回波-回波超声波测厚仪HCH-3000E/E
回波-回波超声波测厚仪HCH-3000E/E 可有效穿透涂层对基体进行测厚,该款仪器是科电公司经过半年的努力自主研发于2013年推出的新品。HCH-3000E/E采用了单片机与CPLD综合系统的全新技术,集发射-回波模式与回波-回波模式于一身的智能型超声波测厚仪。
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超声波测厚仪HCH-3000F
超声波测厚仪HCH-3000F(测量范围: 0.65-500mm 显示精度:0.01mm )是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、的无损检测仪器,适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其它任何超声波的良导体的厚度值,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,检测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。
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超声波测厚仪HCH-3000D
超声波测厚仪HCH-3000D (测量范围: 0.65-350mm 显示精度:0.01mm)是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、的无损检测仪器,适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其它任何超声波的良导体的厚度值,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,检测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。
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超声波测厚仪HCH-3000C+
超声波测厚仪HCH-3000C+ (测量范围: 0.7-350mm 显示精度:0.1mm)是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、的无损检测仪器,适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其它任何超声波的良导体的厚度值,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,检测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。
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超声波测厚仪HCH-2000D
超声波测厚仪HCH-2000D 测量范围:0.65-350mm,显示精度:0.01mm,该仪器内部电路均采用数字电子技术,具有体积小、功耗低、穿透力强、抗摔打、抗振动、示值稳定、触摸按键、检测精度高、可存储测量值、带公英制转换、全汉显中文菜单、液晶显示、可连接微机、打印机等特点,是您在实际应用中*的仪器。
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超声波测厚仪HCH-2000C+
超声波测厚仪HCH-2000C+测量范围:0.7-350mm(45#钢) 显示精度:0.1mm 内部电路采用数字电子技术与微电脑技术,外部采用金属机壳制造而成,仪器体积小、功耗低、功能强、抗摔打、抗振动、触摸按键操作更直观,是您在实际应用中*的仪器。使用本仪器可以方便无损地检测锅炉、压力容器、管道、金属工件、玻璃、塑料、有机玻璃等的厚度。
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